離子探針儀器的四個分類和應用：就成像技術而言，可分為掃描型離子微探針(scanningionmicroprobes)和攝像型離子探針。前者的一次離子束斑直徑較小，(φ≤1μm)，并在樣品上掃描，類似于掃描電鏡(SEM)和掃描俄歇微探針(SAM)，也叫離子微探針。后者是一次離子束斑較大(φ～300μm)，并靜止不動，而二次離子光學(secondaryionoptics)掃描成像，也叫離子顯微鏡(ionmicroscope)，空間分辨率～0.2μm。

　　在離子探針迅速發展中，要說明或列出所有不同的儀器是不可能的。概括地說，可以分為以下幾類。

　　1.非成像離子探針

　　2.離子顯微鏡

　　3.掃描離子微探針

　　4.圖像解剖離子探針(imagedissectingionprobes)

　　離子探針儀器的應用

　　像離子探針適用于許多不同類型的樣品。下面給出一些代表性例子。

　　一，金屬樣品

　　這是理想的樣品，不會荷電。首先可用SEM直接找出感興趣的分析區。使用剖面樣品和使用掃描離子探針，沿剖面線掃描的方法是一種有用的技術，可作為動態SIMS的補充。可用于金屬氧化物成長、腐蝕、焊接、應力失效斷裂和晶粒間界偏析等方面的研究。

　　二，半導體器件

　　檢測摻雜分布剖面和層形結構。隨著超大規模集成電路的發展，掃描離子探針分析越來越重要。

　　三，非導體樣品

　　高聚物和玻璃產品是典型絕緣樣品。為子解決荷電問題，火焰光度計已開發出了微聚焦掃描原子束，可以對絕緣樣品產生高質量的離子像。但當橫向分辨率需優于5μm時，上述源就不能滿足要求了。此時仍需用聚焦微離子束。這方面己成功地得到了家蠅復眼的離子像。應用的另一個領域是復合材料，尤其是研究這類材料破裂界面的情況。