1、Q射頻發(fā)生器的頻率有40.68和27.12MHz兩種哪中更好?

　　A單就兩種頻率本身來說，都可以滿足作為熱源的需要，但是由于所謂趨膚效應(yīng)的存在，頻率越高趨膚效應(yīng)越大，這樣有兩個好處：等離子體厚度小，光強會更大;中心孔道大，樣品對等離子體的影響小(等離子體也是電導(dǎo)體)，不容易導(dǎo)致滅火，尤其切換到高鹽、有機溶液時。

　　2、Q CID和CCD有何區(qū)別?

　　A它們都是為了適應(yīng)上世紀(jì)九十全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的二維分光色散系統(tǒng)而推出的平面檢測器，統(tǒng)稱為電荷轉(zhuǎn)移檢測器(change transfer detector ,CTD)。CID是一種具有電容特性的檢測器，相對來說對紅外敏感，因此需要鍍膜將紫外光轉(zhuǎn)換為紅端的光;由于靈敏度差、讀數(shù)噪聲大，CID采用一種叫非破壞性讀數(shù)的方式不斷累積電荷提高靈敏度，同時從統(tǒng)計學(xué)意義上可以降低讀數(shù)噪聲。CCD的材料量子化效率比較高，采用一次破壞性讀數(shù)即可。

　　3、Q非破壞性讀數(shù)(non-destroy readout, NDRO)和破壞性讀數(shù)(destroy readout, DRO)有何區(qū)別?

　　A兩種讀數(shù)方式分別是CID和CCD兩種檢測器所采用的方式。CID采用這種讀數(shù)方式是由其本身缺陷所決定的，由于靈敏度差、讀數(shù)噪聲大，它只能采用非破壞性讀數(shù)的方式不斷累積電荷提高靈敏度，同時從統(tǒng)計學(xué)意義上可以降低讀數(shù)噪聲。所謂非破壞性讀數(shù)就是在一個周期完了后，控制電路查看檢測單元的電荷大小是否足夠亦即靈敏度滿足要求，如果不夠則繼續(xù)累積電荷，反之則將電荷注入到底質(zhì)，完成讀數(shù)。這最后一次讀數(shù)實際上也就是破壞性讀數(shù)。從這個意義上說，事實上兩種讀數(shù)方式僅僅是中間讀數(shù)方式不同罷了，最終將數(shù)據(jù)傳輸?shù)教幚砥鲿rCID同樣要做一次破壞性讀數(shù)。具體來說，CCD是在數(shù)據(jù)積分時不讀數(shù)，積分完成后，一次性將數(shù)據(jù)讀出，并刷新寄存器，開始新的積分。而CID是邊積分邊讀數(shù)，積分過程中不刷新檢測器。這就如同寫文章，CCD是寫好一篇文章后交卷，CID是寫一個字交一個字，實際上由于CID積分時不刷新檢測器，導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸時間過長，是其易受干擾而且不穩(wěn)定的主要原因。

　　4、Q為何分析低紫外波段的譜線時要做氬氣或氮氣吹掃?

　　A小于190nm的譜線會被空氣中的氧吸收，導(dǎo)致光強降低，所以在需要用到這些譜線如P178、S180等時需要先吹掃光室;因為氮氣較便宜，所以一般選用氬氣。Vista由于光路合理緊湊，所以吹掃速度是所有廠家里最快的，20分鐘左右即可穩(wěn)定分析S180線。

　　5、Q PRO比MPX要貴，說明PRO比MPX更高檔得多嗎?

　　A PRO和MPX是兩個不同年代的產(chǎn)品，無法進行真正意義上的比較。PRO主要貴在檢測器上，而其原因是特殊訂做，導(dǎo)致成本急劇上升。從性能的來說，PRO速度確實快點，其原因也是檢測器，單元少，所以讀數(shù)快。而MPX有100萬像素，所以速度慢一點，即使這樣也比其他儀器快;其次，PRO的分辨率稍好，但是對一般的應(yīng)用來說，PRO和MPX是沒有區(qū)別的，而且對于稀土行業(yè)這種富有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用，PRO的分辨率也不管用，畢竟在分辨率指標(biāo)方面任何一個全譜儀器都趕不上單道掃描的儀器;但Vista的FACT功能可以幫助解決稀土應(yīng)用的問題，事實上提高分辨率，而在PRO和MPX上，F(xiàn)ACT都是標(biāo)準(zhǔn)功能。最后，TJA的高分辨型號(HR)在200nm處的光學(xué)分辨率也是0.008左右(PRO為0.007左右)之間，憑什么哭著喊著要和PRO去比?!

　　6、Q你們的指標(biāo)比TJA差多了?

　　A中文指標(biāo)和英文指標(biāo)絕對是一致的，從來不玩文字游戲!

　　7、Q你們的CCD比CID更不能抗飽和溢出

　　A絕對錯誤，恰恰相反，Vista采用的是一種主動的抗飽和機制，采用的疏導(dǎo)而不是圍堵的方式，一旦有過剩的電荷，即通過類似排水暗溝的方式消除;而CID抗飽和的功能只是利用所謂的非破壞性讀數(shù)來間接實現(xiàn)，是一種消極的方式，也就是通過查看電荷所象征的靈敏度是否足夠決定停止積分與否，從而避免溢出，出發(fā)點是很好的，問題是采集每個數(shù)據(jù)點(像素)是有個周期的，一旦在兩個周期間隔內(nèi)電荷飽和怎么解決?由于CID的讀數(shù)速度慢，更加大了這種可能�？纯礋犭娡ㄟ^攝譜模式拍的譜圖不就真相大白了嗎!

　　8、Q檢測器冷卻到-30℃夠嗎，能保證良好的檢測器性能嗎?別人冷卻到-40℃

　　A打個粗俗的比喻，包工頭招包吃住的民工，都能挑100斤，當(dāng)然選中飯吃5個饅頭而不是10個饅頭的。冷卻只是為了降低暗電流和噪聲，CID的這兩個指標(biāo)差是不爭的事實，當(dāng)然是越低越好，TJA最初還冷卻到-80℃,天下無雙!

　　9、QICP-OES可以做鹵族元素嗎?

　　A可否做某種元素與是否能做好絕對是兩個截然不同的命題，負(fù)責(zé)任地說，用ICP-OES來分析鹵族元素不是太合適，原因很多，具體參看TJA銷售策略評論幻燈片。不是波長寬就擁有某些優(yōu)勢，在785nm以下就可以解決甚至可以做得更好事情為何要求助更高的波長?!

　　10、QICP-OES的運行費用高嗎?

　　AICP-OES的運行費用主要包括電和氬氣消耗，電里包括主機本身和抽風(fēng)機，分析速度和射頻發(fā)生器效率的高低都會間接地影響到耗電的多少，Vista是真正的全譜直讀，無需做雙向觀測，大大提高了分析速度;專利的DISC直接串聯(lián)耦合射頻發(fā)生系統(tǒng)，效率高達85%以上，廢熱風(fēng)冷即可，這些都無形中大大減少了運行成本;氬氣消耗方面，，無需開機即吹掃，而且低紫外區(qū)吹掃20分鐘左右即可進行實用分析，相比其它公司開機即吹掃和兩個小時以上的低紫外區(qū)吹掃時間，Vista無疑也是節(jié)約楷模。

　　11、Q 耗材貴嗎

　　A對于一般的應(yīng)用來說，ICP-OES耗材主要是泵管和炬管，一包泵管12根，50美元左右，大負(fù)荷樣品分析，一個月消耗一根，平均每天一塊多錢。國產(chǎn)炬管質(zhì)量已達到一定水平，無疑也大大降低了成本。

　　12、Q別人有雙向觀測?

　　A競爭廠商推出雙向觀測是為了解決譜線選擇不夠靈活的缺陷。Vista由于可選擇的譜線極為充裕，濃度大的元素可以用低靈敏線分析、低含量元素可以用高靈敏度譜線分析，而且獨有MultiCal功能可以自動協(xié)助選擇譜線，進一步提高了線性范圍寬度，所以根本不需要費時而且導(dǎo)致長期精度下降的雙向觀測

　　13、Q ICP-OES和ICP-AES有何區(qū)別?

　　A ICP-OES和ICP-AES是電感耦合等離子體發(fā)射光譜法不同時期的叫法，ICP-OES即Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry--電感耦合等離子體發(fā)射光譜法，舊稱Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry(ICP-AES)，由于等離子發(fā)射光譜技術(shù)中不僅選用原子譜線而且更多地采用離子譜線因而稱ICP-OES更為科學(xué)準(zhǔn)確

　　14、水平與垂直的問題

　　垂直炬：最早采用的觀測形式。

　　優(yōu)點：儀器結(jié)構(gòu)簡單，可做高鹽樣品，高達30%(除特殊行業(yè)，一般不會這樣操作);動態(tài)線性范圍更寬;

　　問題：多年來的研究工作，靈敏度已達到極限，經(jīng)常在測量環(huán)保如水樣和土壤樣中Hg、Pb、Al、As、Se、P、Na、K等元素(ppb水平)時，常常無能為力。

　　水平炬：為解決垂直炬靈敏度的問題，提高2～10倍，能夠滿足測量環(huán)保等低含量的測定。

　　問題：存在尾焰干擾問題，包括冷原子對譜線的吸收，重新聚合的分子對譜線的吸收，它們導(dǎo)致了線性范圍變差;另外還有雜散光問題，它導(dǎo)致了背景增加。Varian公司的冷錐技術(shù)把尾焰拒絕在光路之外，克服尾焰問題，提高了動態(tài)線性范圍(水平炬到5個數(shù)量級，其它公司無法達到)。雜散光提高是存在，但信號的增加遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于雜散光的提高。

　　由于水平炬在靈敏度上提高了近一個數(shù)量級，因此大大地增加了其在痕量分析的應(yīng)用領(lǐng)域，如高純有色金屬的分析、土壤和水中低痕量元素的分析，很多方面是垂直炬無法達到的。

　　15、Q雙向觀測的有什么問題嗎

　　A首先，請注意，雙向觀測一定是水平放置的炬管。

　　a) 首先，為什么要采用雙向觀測?

　　原因兩個：(一)因為尾焰干擾、動態(tài)線性范圍差;(二)象素少，譜線可供選擇少。在做高含量的時候，不能選擇靈敏度差的譜線來提高動態(tài)線性范圍。

　　b) 主要問題：

　　i. 需要水平和垂直兩次讀數(shù);(二)需要增加切換的反光鏡，于是出現(xiàn)機械的重復(fù)性問題，重復(fù)的精度將隨時間的變化而降低。(三)由于是水平炬，炬管的外管一定比垂直炬管長，徑向觀測時一定要通過管壁進行采光，于是炬管一定要開一條口子。那么這種炬管一來加工不易，二來容易損壞。

　　16、冷錐會有使用問題?

　　冷錐的壽命：冷錐是鎳基合金，非常堅硬。除非特別的人為破壞，在ICP的使用壽命期內(nèi)是不可能有壽命問題。

　　冷錐的鎳空白：雖然是鎳基材料，但內(nèi)部有水冷，溫度低，不可能有光譜發(fā)射。而且實驗表明鎳、鐵的空白根本看不到。